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1. Congrès 10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse [ [Texte imprimé]] = 10th International Congress on X-Ray Optics and MicroanalysisPublication :LES-ULIS : Ed. de physique, 1984Description : 1 vol. (903 p.) ; 25 CMAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 9038-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2428] (2).
2. Congrès Cracow 12 ICXOM : 12th Internatioal Congress on X-ray Optics and Microanalysis, 28 Aug-1 Sept, 1989 / organized by Faculty of Structural Analysis, Institute of Metallurgy, Academy of Mining and MetallurgyPublication :Krakow, Poland : Academy of Mining and Metallurgy, c1989Description : 2 v. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3134] (1).
3. Congrès Eighth International Congress on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] / edited by Donald R. Beaman, Robert E. Ogilvie, and David B. WittryPublication :Midland, Mich. : Pendell Pub. Co., 1980Description : 1 vol. (xiv, 665 p.) : ill. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2126] (1).
4.  Monographies, textes Electron beam analysis of materials [] / M.H. LorettoPublication :London [etc.] : Chapman and Hall, cop. 1984Description : 1 vol. (VI-210 p.) ; 23 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2625] (1).
5.  Monographies, textes Electron Beam Microanalysis [] / D. R. Beaman, J. A. IsasiPublication :[S. l.] : American Society for Testing and Materials, 1972Description : 1 vol. (79 p.)Availability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 197] (1).
6.  Monographies, textes Electron beam x-ray microanalysis [] / Kurt F. J. HeinrichPublication :New York : Van Nostrand Reinhold Co., c1981Description : xxiii, 578 p., [4] leaves of plates : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2091] (1).
7.  Monographies, textes Electron microprobe analysis [] / S. J. B. Reed,...Publication :Cambridge : Cambridge University Press, cop. 1975Description : 1 vol. (XVI- 400 p.-[8] p. de pl.) : ill., graph., tabl. ; 23 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 19958-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1632] (1).
8. Congrès Electron microprobe quantitationPublication :New York : Plenum press, 1991Description : 400 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3311] (1).
9.  Monographies, textes Electron microscopy.1980.vol.3 : AnalysisPublication :Leiden : European congress on electron microscopy foundation, 1980Description : 253 p. ; 27 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2146] (1).
10.  Monographies, textes Electron microscopy.1984Publication :Budapest : S.n., 1984Description : 3 vol.,2405 p. ; 20 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2456] (1).
11. Congrès Electron microscopy and analysis.1971Publication :Bristol : Institute of physics, 1971Description : 342 p. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 94] (1).
12. Congrès Electron probe microanalysis today : practical aspects = EMAS'98 / editors : X. Llovet, C. Merlet, F. SalvatPublication :Barcelone : Universitat de Barcelona, 1998Description : 370 p. ; 30 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3876] (1).
13.  Monographies, textes International congress on x-ray optics and microanalysis.5 = Congrès international sur l'optique des rayons x et la microanalyse.5Publication :Heidelberg : Springer verlag, 1969Description : 612 p. ; 28 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1344] (1).
14.  Monographies, textes Microanalyse par sonde électronique : Aspects quantitatifsPublication :Paris : Association nationale de la recherche technique, 1989Description : X p. ; 30 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3092] (2).
15.  Monographies, textes Microbeam analysis.1988Publication :San Francisco : San Francisco press, 1988Description : 528 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2874] (1).
16.  Monographies, textes Optique des rayons x et microanalyse = X-ray optics and microanalysisPublication :Paris : Hermann, 1966Description : 707 p. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1345] (1).
17.  Monographies, textes Principles of analytical electron microscopy / edited by David C. Joy, Alton D. Romig, Jr., and Joseph I. GoldsteinPublication :New York : Plenum Press, c1986Description : xvi, 448 p. : ill. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2827] (1).
18.  Monographies, textes Quantitative electron-probe microanalysis / ed. V.D. Scott and G. Love,.Publication :Chichester : Ellis Horwood, New York, Brisbane, Chichester [etc.] : Halsted press, 1983Description : 345 p : ill ; 23 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2448] (1).
19.  Monographies, textes Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis [] : a text for biologists, materials scientists, and geologists / Joseph I. Goldstein ... [et al.]Publication :New York : Plenum Press, c1981Description : 1 vol. (xiii-673 p.) : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2548] (1).
20.  Monographies, textes Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]Publication :New York : Springer, cop. 2003Description : 1 vol. (XIX-690 p., [3] p. de pl.) : ill. (certaines en coul. ) ; 26 cm + 1 cédérom (12 cm)Availability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 4631] (1).
21. Congrès Sixth International Conference on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] : Osaka, [September 5-10, 1971] proceedings / Edited by G. Shinoda, K. Kohra and T. IchinokawaPublication :[Tokyo] : University of Tokyo Press, [1972]Description : XI- 908 p. : ill. ; 27 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 19900-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1438] (1).
22.  Monographies, textes Travaux pratiques de microscopie électronique a balayage et de microanalyse X / editeur : J.F. BressePublication :Paris : Association nationale de la recherche technique, 1994Description : X p. ; 30 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3829] (2).

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