Your search returned 12 results. Subscribe to this search

|
1. Congrès 10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse [ [Texte imprimé]] = 10th International Congress on X-Ray Optics and MicroanalysisPublication :LES-ULIS : Ed. de physique, 1984Description : 1 vol. (903 p.) ; 25 CMAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 9038-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2428] (2).
2. Congrès Eighth International Congress on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] / edited by Donald R. Beaman, Robert E. Ogilvie, and David B. WittryPublication :Midland, Mich. : Pendell Pub. Co., 1980Description : 1 vol. (xiv, 665 p.) : ill. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2126] (1).
3.  Monographies, textes Electron beam analysis of materials [] / M.H. LorettoPublication :London [etc.] : Chapman and Hall, cop. 1984Description : 1 vol. (VI-210 p.) ; 23 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2625] (1).
4.  Monographies, textes Electron beam x-ray microanalysis [] / Kurt F. J. HeinrichPublication :New York : Van Nostrand Reinhold Co., c1981Description : xxiii, 578 p., [4] leaves of plates : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2091] (1).
5.  Monographies, textes Electron microscopy.1984Publication :Budapest : S.n., 1984Description : 3 vol.,2405 p. ; 20 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2456] (1).
6.  Monographies, textes Microanalyse par sonde électronique : Aspects quantitatifsPublication :Paris : Association nationale de la recherche technique, 1989Description : X p. ; 30 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3092] (2).
7.  Monographies, textes Optique des rayons x et microanalyse = X-ray optics and microanalysisPublication :Paris : Hermann, 1966Description : 707 p. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1345] (1).
8.  Monographies, textes Principles of analytical electron microscopy / edited by David C. Joy, Alton D. Romig, Jr., and Joseph I. GoldsteinPublication :New York : Plenum Press, c1986Description : xvi, 448 p. : ill. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2827] (1).
9.  Monographies, textes Quantitative electron microprobe analysis [] / Roger TheisenPublication :Berlin, New York : Springer-Verlag, 1965Description : 1 vol. (170 p.) : ill. ; 26 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 100.595] (1).
10.  Monographies, textes Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis [] : a text for biologists, materials scientists, and geologists / Joseph I. Goldstein ... [et al.]Publication :New York : Plenum Press, c1981Description : 1 vol. (xiii-673 p.) : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2548] (1).
11.  Monographies, textes Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]Publication :New York : Springer, cop. 2003Description : 1 vol. (XIX-690 p., [3] p. de pl.) : ill. (certaines en coul. ) ; 26 cm + 1 cédérom (12 cm)Availability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 4631] (1).
12. Congrès Sixth International Conference on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] : Osaka, [September 5-10, 1971] proceedings / Edited by G. Shinoda, K. Kohra and T. IchinokawaPublication :[Tokyo] : University of Tokyo Press, [1972]Description : XI- 908 p. : ill. ; 27 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 19900-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1438] (1).

Powered by Koha