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1. Congrès 10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse [ [Texte imprimé]] = 10th International Congress on X-Ray Optics and MicroanalysisPublication :LES-ULIS : Ed. de physique, 1984Description : 1 vol. (903 p.) ; 25 CMAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 9038-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2428] (2).
2. Thèses / {S. Mellul}CONTRIBUTION A L'ETUDE DE L'INTERFACE CU-AL2O3 PAR MICROSCOPIE ELECTRONIQUE EN TRANSMISSION ET MICROANALYSE X.Publication :Centre d'études de chimie métallurgique, 1988Description : 01 VOL,228 P. : IL X,RF X ; 30 CMAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 138.661 CCL.TH.621] (1).
3. Congrès Cracow 12 ICXOM : 12th Internatioal Congress on X-ray Optics and Microanalysis, 28 Aug-1 Sept, 1989 / organized by Faculty of Structural Analysis, Institute of Metallurgy, Academy of Mining and MetallurgyPublication :Krakow, Poland : Academy of Mining and Metallurgy, c1989Description : 2 v. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3134] (1).
4. Congrès Eighth International Congress on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] / edited by Donald R. Beaman, Robert E. Ogilvie, and David B. WittryPublication :Midland, Mich. : Pendell Pub. Co., 1980Description : 1 vol. (xiv, 665 p.) : ill. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2126] (1).
5.  Monographies, textes Electron beam analysis of materials [] / M.H. LorettoPublication :London [etc.] : Chapman and Hall, cop. 1984Description : 1 vol. (VI-210 p.) ; 23 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2625] (1).
6.  Monographies, textes Electron microscopy.1978Publication :Toronto : Microscopical society of Canada, 1978Description : 2 vol.,684 p., 699 p. ; 27 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1939] (2).
7.  Monographies, textes Electron microscopy.1980.vol.3 : AnalysisPublication :Leiden : European congress on electron microscopy foundation, 1980Description : 253 p. ; 27 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2146] (1).
8.  Monographies, textes Electron microscopy and analysis, 1979 : proceedings of the Institute of physics Electron microscopy and analysis group conference held at the University of Sussex, Brighton, 3-6 September 1979 (EMAG 79) / ed. by T. MulveyPublication :Bristol, London : Institute of physics, cop. 1980Description : XV-472 p : ill ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1953] (1).
9.  Monographies, textes Electron microscopy and microanalysis of crystalline materials [] / J.A BelkPublication :London : Applied Science Publishers, c1979Description : 1vol.(x-240p.) : ill ; 23cmAvailability: Copies available for loan: Sophia Antipolis[EMS 761-A02/N 1375] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2127] (1), Sophia Antipolis[EMS 761-A02/N 1375] (1).
10.  Monographies, textes Electron optical applications in materials sciencePublication :New York : McGraw-Hill, [1970]Description : xiv, 544 p. : illus. ; 23 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 102.847] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1193] (1).
11.  Monographies, textes ICXOM 11 = International congres on X-ray optics and microanalysis.11Publication :S.l. : S.n., 1987Description : 535 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2727] (1).
12.  Monographies, textes METHODES ET TECHNIQUES NOUVELLES D'OBSERVATION EN METALLURGIE-PHYSIQUE.Publication :PARIS : Société française de microscopie électronique, 1972Availability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 102.857] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC RES 6] (3), Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 2180] (1).
13. Congrès Microanalyse et microscopie électronique à balayage [Texte imprimé] / École d'été de St-Martin-d'Hères, 11-16 septembre 1978 ; publiée sous la direction de F. Maurice, L. Meny et R. Tixier...Publication :Orsay, Av. du Hoggar, zone industrielle de Courtabœuf, B.P. 112, 91402 : Éditions de Physique, 1979, Paris : impr. JouveDescription : 1 vol. (XXX-534 p.) : ill., couv. ill. en coul ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 106.163] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2431] (3), Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 560] (1).
14.  Monographies, textes Microbeam analysis.1985Publication :San Francisco : San Francisco press, 1985Description : 383 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2632] (1).
15.  Monographies, textes Microbeam analysis.1988Publication :San Francisco : San Francisco press, 1988Description : 528 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2874] (1).
16.  Monographies, textes Microstructural and microanalytical techniques in materials sciencePublication :Les Ulis : Editions de physique, 1995Description : 443-701 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC] (1).
17.  Monographies, textes Practical analytical electron microscopy in materials science / David B. WilliamsPublication :Mahwah, New Jersey : Philips Electronic Instruments, 1984Description : iii, 153 p. : ill. ; 28 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2780] (1).
18.  Monographies, textes Scanning electron microscopy [] : physics of image formation and microanalysis / Ludwig ReimerPublication :Berlin, [etc.] : Springer, cop. 1998Description : 1 vol. (XIV-457 p.) : ill. ; 24 cm.Availability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 4392] (1).
19. Congrès Sixth International Conference on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] : Osaka, [September 5-10, 1971] proceedings / Edited by G. Shinoda, K. Kohra and T. IchinokawaPublication :[Tokyo] : University of Tokyo Press, [1972]Description : XI- 908 p. : ill. ; 27 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 19900-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1438] (1).

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