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1. Congrès 10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse [ [Texte imprimé]] = 10th International Congress on X-Ray Optics and MicroanalysisPublication : LES-ULIS : Ed. de physique, 1984Description : 1 vol. (903 p.) ; 25 CMAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 9038-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2428] (2).
2. Congrès Eighth International Congress on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] / edited by Donald R. Beaman, Robert E. Ogilvie, and David B. WittryPublication : Midland, Mich. : Pendell Pub. Co., 1980Description : 1 vol. (xiv, 665 p.) : ill. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2126] (1).
3.  Monographies, textes Electron beam analysis of materials [] / M.H. LorettoPublication : London [etc.] : Chapman and Hall, cop. 1984Description : 1 vol. (VI-210 p.) ; 23 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2625] (1).
4.  Monographies, textes Electron microscopy.1984Publication : Budapest : S.n., 1984Description : 3 vol.,2405 p. ; 20 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2456] (1).
5.  Monographies, textes Electron microscopy and microanalysis of crystalline materials [] / J.A BelkPublication : London : Applied Science Publishers, c1979Description : 1vol.(x-240p.) : ill ; 23cmAvailability: Copies available for loan: Sophia Antipolis[EMS 761-A02/N 1375] (2). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2127] (1).
6. Congrès Energy dispersive X-ray spectrometry [Texte imprimé] : proceedings / of a Workshop on energy dispersive X-ray spectrometry held at the National bureau of standards, Gaithersburg, Md., april 23-25, 1979 ; ed. K.F.J. Heinrich, D.E. Newbury, R.L. Myklebust,.Publication : Washington : U.S. Government printing office, 1981Description : 1 vol. (VII-443 p.) : ill ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2183] (1).
7.  Monographies, textes ICXOM 11 = International congres on X-ray optics and microanalysis.11Publication : S.l. : S.n., 1987Description : 535 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2727] (1).
8. Congrès Microanalyse et microscopie électronique à balayage [Texte imprimé] / École d'été de St-Martin-d'Hères, 11-16 septembre 1978 ; publiée sous la direction de F. Maurice, L. Meny et R. Tixier...Publication : Orsay, Av. du Hoggar, zone industrielle de Courtabœuf, B.P. 112, 91402 : Éditions de Physique, 1979, Paris : impr. JouveDescription : 1 vol. (XXX-534 p.) : ill., couv. ill. en coul ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 106.163] (1), Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 560] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2431] (3).
9.  Monographies, textes Microbeam analysis.1985Publication : San Francisco : San Francisco press, 1985Description : 383 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2632] (1).
10.  Monographies, textes Principles of analytical electron microscopy / edited by David C. Joy, Alton D. Romig, Jr., and Joseph I. GoldsteinPublication : New York : Plenum Press, c1986Description : xvi, 448 p. : ill. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2827] (1).
11.  Monographies, textes Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis [] : a text for biologists, materials scientists, and geologists / Joseph I. Goldstein ... [et al.]Publication : New York : Plenum Press, c1981Description : 1 vol. (xiii-673 p.) : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2548] (1).
12.  Monographies, textes Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein ... [et al.]Publication : New York : Springer, cop. 2003Description : 1 vol. (XIX-690 p., [3] p. de pl.) : ill. (certaines en coul. ) ; 26 cm + 1 cédérom (12 cm)Availability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 4631] (1).
13.  Monographies, textes Scanning electron microscopy, X-Ray microanalysis, and analytical electron microscopy : a laboratory workbook / Charles E. Lyman, Joseph I. Goldstein, Alton D. Romig.Publication : New York and London : Plenum Press, 1990Description : xi, 407 p ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3208] (1).
14. Congrès Sixth International Conference on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] : Osaka, [September 5-10, 1971] proceedings / Edited by G. Shinoda, K. Kohra and T. IchinokawaPublication : [Tokyo] : University of Tokyo Press, [1972]Description : XI- 908 p. : ill. ; 27 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 19900-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1438] (1).

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