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1. Congrès 10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse [ [Texte imprimé]] = 10th International Congress on X-Ray Optics and MicroanalysisPublication : LES-ULIS : Ed. de physique, 1984Description : 1 vol. (903 p.) ; 25 CMAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 9038-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2428] (2).
2. Congrès 4th International aluminium lithium conference / edited by G. Champier, B. Dubost, D. Miannay, L. SabetayPublication : Les Ulis : Editions de physique, 1987Description : 932 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 4294] (1).
3. Congrès Advances in optical and electron microscopy.6Publication : London : Academic Press, 1975Description : 331 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1923] (1).
4. Congrès Advances in optical and electron microscopy.9Publication : London : Academic Press, 1984Description : 370 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2820] (1).
5.  Monographies, textes Caractérisation expérimentale des matériaux, II, Analyse par rayons X, électrons et neutrons [] / Jean-Luc Martin, Amand GeorgeSet Level : Traité des matériaux, 3Publication : Lausanne : Presses polytechniques et universitaires romandes, [Paris] : [diff. Tec et doc], cop. 1998, impr. en SuisseDescription : 1 vol. (XVI-367 p.) : ill., couv. ill. ; 25 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[620.11 MAR t] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3805] (1).
6.  Monographies, textes Characterization of solid surfaces [] / edited by Philip F. Kane and Graydon B. LarrabeePublication : New York : Plenum Press, [1974]Description : 1 vol. (xviii-670 p.) : ill. ; 26 cmAvailability: Copies available for loan: Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 36] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1513] (1).
7.  Monographies, textes Combined analysis [] / Daniel ChateignerPublication : London : ISTE, Hoboken, NJ : Wiley, cop. 2010Description : 1 vol. (XVIII-497 p.) : ill. en noir, couv. ill. en coul. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 4795] (1).
8. Congrès Comptes rendus des travaux du séminaire sur les méthodes d'analyse et de caractérisation des couches minces [Texte imprimé] / organisé aux Arcs-Bourg-Saint Maurice, du 23 au 27 janvier 1978 par la Société française du videSet Level : , ˜Le œVide, les couches minces, Suppl. au n° 189, 1978Publication : Paris : S.F.V, 1978Description : 1 vol. (276 p.) : ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1844] (1).
9. Congrès Cracow 12 ICXOM : 12th Internatioal Congress on X-ray Optics and Microanalysis, 28 Aug-1 Sept, 1989 / organized by Faculty of Structural Analysis, Institute of Metallurgy, Academy of Mining and MetallurgyPublication : Krakow, Poland : Academy of Mining and Metallurgy, c1989Description : 2 v. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3134] (1).
10. Congrès Eighth International Congress on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] / edited by Donald R. Beaman, Robert E. Ogilvie, and David B. WittryPublication : Midland, Mich. : Pendell Pub. Co., 1980Description : 1 vol. (xiv, 665 p.) : ill. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2126] (1).
11.  Monographies, textes Electron beam analysis of materials [] / M.H. LorettoPublication : London [etc.] : Chapman and Hall, cop. 1984Description : 1 vol. (VI-210 p.) ; 23 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2625] (1).
12.  Monographies, textes Electron beam interactions with solids for microscopy, microanalysis & microlithography : proceedings of the 1st Pfefferkorn Conference, held april 18 to 23, 1982, at the Asilomar Conference Center, Monterey, Ca / Ed. by David F. Kyser, Heinz Niedrig, Dale E. Newbury, Ryuichi Shimizu ; Managing ed. Daniel HalibayPublication : AMF O'Hare (Chicago) Ill : Scanning Electron Microscopy, cop. 1984Description : xii, 372 p : ill ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2466] (1).
13.  Monographies, textes Electron Beam Microanalysis [] / D. R. Beaman, J. A. IsasiPublication : [S. l.] : American Society for Testing and Materials, 1972Description : 1 vol. (79 p.)Availability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 197] (1).
14.  Monographies, textes Electron beam x-ray microanalysis [] / Kurt F. J. HeinrichPublication : New York : Van Nostrand Reinhold Co., c1981Description : xxiii, 578 p., [4] leaves of plates : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2091] (1).
15.  Monographies, textes Electron microprobe analysis [] / S. J. B. Reed,...Publication : Cambridge : Cambridge University Press, cop. 1975Description : 1 vol. (XVI- 400 p.-[8] p. de pl.) : ill., graph., tabl. ; 23 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 19958-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1632] (1).
16. Congrès Electron microprobe quantitationPublication : New York : Plenum press, 1991Description : 400 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3311] (1).
17.  Monographies, textes Electron microscopy.1978Publication : Toronto : Microscopical society of Canada, 1978Description : 2 vol.,684 p., 699 p. ; 27 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1939] (2).
18.  Monographies, textes Electron microscopy.1980.vol.3 : AnalysisPublication : Leiden : European congress on electron microscopy foundation, 1980Description : 253 p. ; 27 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2146] (1).
19.  Monographies, textes Electron microscopy.1984Publication : Budapest : S.n., 1984Description : 3 vol.,2405 p. ; 20 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2456] (1).
20. Congrès Electron microscopy and analysis.1971Publication : Bristol : Institute of physics, 1971Description : 342 p. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 94] (1).
21.  Monographies, textes Electron microscopy and analysis, 1979 : proceedings of the Institute of physics Electron microscopy and analysis group conference held at the University of Sussex, Brighton, 3-6 September 1979 (EMAG 79) / ed. by T. MulveyPublication : Bristol, London : Institute of physics, cop. 1980Description : XV-472 p : ill ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1953] (1).
22.  Monographies, textes Electron microscopy and analysis, 1985 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference held at the University of Newcastle upon Tyne, 2-5 September 1985 (EMAG 85) / ed. by G.J. TatlockPublication : Bristol [etc.] : A. Hilger, cop. 1986Description : xvi, 592 p ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2655] (1).
23.  Monographies, textes Electron microscopy and microanalysis of crystalline materials [] / J.A BelkPublication : London : Applied Science Publishers, c1979Description : 1vol.(x-240p.) : ill ; 23cmAvailability: Copies available for loan: Sophia Antipolis[EMS 761-A02/N 1375] (2). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2127] (1).
24.  Monographies, textes Electron optical applications in materials sciencePublication : New York : McGraw-Hill, [1970]Description : xiv, 544 p. : illus. ; 23 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 102.847] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1193] (1).
25. Congrès Electron probe microanalysis today : practical aspects = EMAS'98 / editors : X. Llovet, C. Merlet, F. SalvatPublication : Barcelone : Universitat de Barcelona, 1998Description : 370 p. ; 30 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3876] (1).

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