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1.  Monographies, textes Analyse structurale et chimique des matériaux [] : diffraction des rayons X, électrons et neutrons, spectrométrie des rayons X, électrons et ions, microscopie électronique / Jean-Pierre Eberhart,...Publication :Paris : Dunod, cop. 1989, 54-Nancy : Impr. Berger-LevraultDescription : 1 vol. (XIII-614 p.) : ill., couv. ill.en coul. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3018] (2). Checked out (1).
2. Congrès Cracow 12 ICXOM : 12th Internatioal Congress on X-ray Optics and Microanalysis, 28 Aug-1 Sept, 1989 / organized by Faculty of Structural Analysis, Institute of Metallurgy, Academy of Mining and MetallurgyPublication :Krakow, Poland : Academy of Mining and Metallurgy, c1989Description : 2 v. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3134] (1).
3. Congrès Ecole d'hiver sur les spectrométries d'électrons, ESCA-AUGER, électrons secondaires, pertes d'énergie : Les Arcs-Bourg Saint Maurice, 24 au 28 janvier1983 / organisée par la Société française du vide et par la Section chimie analytique de la Société chimique de FranceSet Level : , Le Vide, les couches minces, Suppl. n° 215, 1983Publication :Paris : S.F.V, 1983Description : 1vol. (224 p.) : ill ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2317] (1), Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 2144] (1).
4.  Monographies, textes Electron beam analysis of materials [] / M.H. LorettoPublication :London [etc.] : Chapman and Hall, cop. 1984Description : 1 vol. (VI-210 p.) ; 23 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2625] (1).
5.  Monographies, textes Electron beam analysis of materials [] / M.H. LorettoPublication :London, New York : Chapman & Hall, c1994Description : VI-272 p. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3540] (1).
6.  Monographies, textes Electron beam interactions with solids for microscopy, microanalysis & microlithography : proceedings of the 1st Pfefferkorn Conference, held april 18 to 23, 1982, at the Asilomar Conference Center, Monterey, Ca / Ed. by David F. Kyser, Heinz Niedrig, Dale E. Newbury, Ryuichi Shimizu ; Managing ed. Daniel HalibayPublication :AMF O'Hare (Chicago) Ill : Scanning Electron Microscopy, cop. 1984Description : xii, 372 p : ill ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2466] (1).
7. Congrès Electron emission spectroscopy [Texte imprimé] : proceedings of the NATO Summer Institute held at the University of Gent, August 28-September 7, 1972 / Ed. by W. Dekeyser [et al.]Publication :Dordrecht, Boston : D. Reidel Pub. Co., cop. 1973Description : 1 vol. (viii-507 p.) : ill. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1357] (1).
8.  Monographies, textes Electron microscopy 1994, Volume 1:Interdisciplinary developments and toolsPublication :Les Ulis : Editions de physique, 1994Description : 1042 p. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3549] (1).
9.  Monographies, textes Electron microscopy and analysis, 1985 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference held at the University of Newcastle upon Tyne, 2-5 September 1985 (EMAG 85) / ed. by G.J. TatlockPublication :Bristol [etc.] : A. Hilger, cop. 1986Description : xvi, 592 p ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2655] (1).
10.  Monographies, textes Electron spectroscopy : theory, techniques and applications / ed. by C. R. Brundle and A. D. BakerPublication :London [etc.] : Academic Press, 1977-...Description : ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2207] (1).
11.  Monographies, textes Fundamental electron and ion beam interactions with solids for microscopy,microanalysis and microlithographyPublication :Amf O'Hare : Scanning microscopy international, 1990Description : 370 p. ; 30 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3269] (1).
12.  Monographies, textes Fundamentals of surface and thin film analysis [] / Leonard C. Feldman,... James W. Mayer,...Publication :New York (N. Y.), [etc.] : North -Holland, cop. 1986Description : 1 vol. (xviii-352 p.) : ill ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2724] (1).
13.  Monographies, textes Lake Tahoe workshop on electron energy loss spectroscopyPublication :Les Ulis : Editions de physique, 1991Description : 411 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC] (1).
14.  Monographies, textes Méthodes physiques d'étude des minéraux et des matériaux solides [] : diffraction des rayons X, des électrons, des neutrons, microscopie électronique à transmission, à balayage, spectrométrie des rayons X, des électrons, des ions / par J.-P. Eberhart,...Publication :Paris : Doin, c.1976, impr. en BelgiqueDescription : 1 vol. (XIII-507 p.) : ill. ; 25cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 104.261] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2356] (7).
15.  Monographies, textes Microcaractérisation des solides [] : méthodes d'observation et d'analyse / édité par Michel Ammou ; préface de Pierre VermeulinPublication :Valbonne (Alpes-Maritimes) : CRAM : LPSES : CNRS, impr. 1989Description : 1 vol. (541 p.) : ill. ; 22 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3062] (1), Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 11216] (1). Checked out (1).
16.  Monographies, textes Practical surface analysis, Volume 2, Ion and neutral spectroscopy [] / edited by D. Briggs and M. P. SeahPublication :Chichester, New York : Wiley, Aarau, Frankfurt am Main : Salle + Sauerländer, cop. 1992Description : 1 vol. (XVI-738 p., [8] p. de planches) : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3841] (1). Checked out (1).
17.  Monographies, textes / {B. Agius}Surfaces, interfaces et films minces : Observation et analysePublication :Dunod, 5, rue Laromiguière, 75006, Paris, 1990Description : 470 p. : Ill./Couv. ill. ; 26 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 110.722] (1).
18.  Monographies, textes The particle atlas [] : an encyclopedia of techniques for small particle identification / [by] Walter C. McCrone [and] John Gustav DellyPublication :Ann Arbor, Mich. : Ann Arbor Science Publishers, [c1973]-<c1979>Description : v. <1-5> : illus. ; 32 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 1192] (1).

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