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1. Congrès 10ème Congrès International d'Optique des Rayons X et de Microanalyse [ [Texte imprimé]] = 10th International Congress on X-Ray Optics and MicroanalysisPublication : LES-ULIS : Ed. de physique, 1984Description : 1 vol. (903 p.) ; 25 CMAvailability: Copies available for loan: Bib. Fontainebleau[EMF 9038-8] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2428] (2).
2. Articles / E. Darque-Ceretti, R. Combarieu, M. AucouturierAbout SIMS analysis of organic materials [ [Texte imprimé]]Publication : ENSMP, 1999Description : P. 141-159 : Ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 148.447 CCL.5777] (1).
3. Articles / Geneviève Cerveau, Robert J.P. Corriu, Josiane Dabosi, [et al.]Characterization of the surface organization of nanostructured hybrid organic-inorganic materials by time-of-flight secondary ion mass spectrometry, Geneviève Cerveau, Robert J.P. Corriu, Josiane Dabosi, [et al.]Publication : ENSMP, 1999Description : P. 2183-2190 : Ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 148.456 CCL.5777] (1).
4. Congrès Eighth International Congress on X-ray Optics and Microanalysis [Texte imprimé] / edited by Donald R. Beaman, Robert E. Ogilvie, and David B. WittryPublication : Midland, Mich. : Pendell Pub. Co., 1980Description : 1 vol. (xiv, 665 p.) : ill. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2126] (1).
5.  Monographies, textes Electron microscopy.1980.vol.3 : AnalysisPublication : Leiden : European congress on electron microscopy foundation, 1980Description : 253 p. ; 27 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2146] (1).
6. Articles Etude par ToF-SIMS de la chimisorption des molécules organiques sur les surfaces métalliques / F. Delamare, F. DelamarePublication : ENSMP, 1999Description : P. 1-6 : Ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 148.449 CCL.5777] (1).
7.  Monographies, textes Fundamentals of surface and thin film analysis [] / Leonard C. Feldman,... James W. Mayer,...Publication : New York (N. Y.), [etc.] : North -Holland, cop. 1986Description : 1 vol. (xviii-352 p.) : ill ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2724] (1).
8.  Monographies, textes Handbook of static secondary ion mass spectrometry / D. Bruggs, A. Brown and J.C. VickermanPublication : Chichester [etc.] : J. Wiley, cop.1989Description : 156 p ; 22 x 31 cmAvailability: No copies available Checked out (1).
9.  Monographies, textes ICXOM 11 = International congres on X-ray optics and microanalysis.11Publication : S.l. : S.n., 1987Description : 535 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2727] (1).
10. Articles / J.L. Aubagnac, C. Enjalbal, C. Drouot, [et al.]Imaging time-of-flight secondary ion mass spectrometry of solid-phase peptide syntheses, J.L. Aubagnac, C. Enjalbal, C. Drouot, [et al.]Publication : ENSMP, 1999Description : P. 749-754 : Ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 148.454 CCL.5777] (1).
11. Congrès Methods of surface analysisPublication : Amsterdam : Elsevier, 1975Description : 481 p. ; 25 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3410] (1).
12. Congrès Microanalyse et microscopie électronique à balayage [Texte imprimé] / École d'été de St-Martin-d'Hères, 11-16 septembre 1978 ; publiée sous la direction de F. Maurice, L. Meny et R. Tixier...Publication : Orsay, Av. du Hoggar, zone industrielle de Courtabœuf, B.P. 112, 91402 : Éditions de Physique, 1979, Paris : impr. JouveDescription : 1 vol. (XXX-534 p.) : ill., couv. ill. en coul ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 106.163] (1), Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 560] (1). Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2431] (3).
13.  Monographies, textes Microbeam analysis.1988Publication : San Francisco : San Francisco press, 1988Description : 528 p. ; 29 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 2874] (1).
14.  Monographies, textes Microbeam and nanobeam analysisPublication : Wien : Springer verlag, 1996Description : XI-643 p. ; 28 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3714] (1).
15. Congrès Microscopy of oxidation 2 : proceedings of the Second International Conference on the Microscopy of Oxidation, held at Selwyn College, University of Cambridge, 29-31 March 1993 / edited by S.B. Newcomb and M.J. BennettPublication : London : Institute of Materials, c1993Description : xiii, 593 p. : ill. ; 26 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3515] (1).
16.  Monographies, textes Microstructural and microanalytical techniques in materials sciencePublication : Les Ulis : Editions de physique, 1995Description : 443-701 p. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC] (1).
17. Articles / C. Enjalbal, D. Maux, G. Subra, [et al.]Monitoring and quantification on solid support of a by-product formation during peptide synthesis by Tof-SIMS, C. Enjalbal, D. Maux, G. Subra, [et al.]Publication : ENSMP, 1999Description : P. 6217-6220 : Ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 148.455 CCL.5777] (1).
18.  Monographies, textes Polymer surfaces and interfaces II [] / edited by W.J. Feast, H.S. Munro, and R.W. RichardsPublication : Chichester, New York : Wiley & Sons, c1993Description : 1 vol.(xvi, 297 p.) : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3520] (1).
19.  Monographies, textes Practical surface analysis, Volume 2, Ion and neutral spectroscopy [] / edited by D. Briggs and M. P. SeahPublication : Chichester, New York : Wiley, Aarau, Frankfurt am Main : Salle + Sauerländer, cop. 1992Description : 1 vol. (XVI-738 p., [8] p. de planches) : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for reference: Bib. Evry[EMC 3841] (1). Checked out (1).
20.  Monographies, textes Secondary ion mass spectrometry : basic concepts, instrumental aspects, applications and trends / A. Benninghoven, F.G. Rüdenauer, H.W. WernerPublication : New York [etc.] : Wiley-Interscience, cop. 1987Description : xxxv, 1227 p ; 24 cmAvailability: No copies available Checked out (1).
21. Congrès Secondary Ion Mass Spectrometry : A Practical Handbook for Depth Profiling and Bulk Impurity Analysis / {F. Stevie, R. Wilson, C. Magee}Publication : Wiley, 1989Description : ; 24 cmAvailability: No copies available Checked out (1).
22. Congrès Secondary ion mass spectrometry : proceedings of the ninth International conference on secondary mass spectrometry, SIMS IX, Yokohama, Japan, 7-12 November, 1993 / editors, A. Benninghoven ... [et al.]Publication : New York : Wiley, c1994Description : xxiv, 983 p. : ill. ; 24 cmAvailability: Copies available for loan: Sophia Antipolis[EMS 170-A16/N 3639] (1).
23.  Monographies, textes / Gilles DauchotLa spectrométrie de masse d'ions secondaires, son apport à l'étude des réactions de surface : approche théorique et expérimentale, Gilles DauchotPublication : Sophia-Antipolis : ENSMP, 1997Description : 23 p. : Ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 146.630 CCL.5727] (1).
24. Congrès Static SIMS Handbook of Polymer Analysis : A Reference Book of Standard Data for Identification and Interpretation of Static SIMS Data / {J. Moulder, B. Carlson, T. Hohlt, J. Newman, R. Michael}Publication : Eden Prairie : PERKIN-ELMER CORPORATION, 1991Description : 171 p. ; 21 CMAvailability: No copies available Checked out (1).
25. Articles Tribochimie du laminage / G. Dauchot, R. Combarieu, M. Repoux, [et al.] : apport de la spectrométrie de masse ToF-SIMS, G. Dauchot, R. Combarieu, M. Repoux, [et al.]Publication : ENSMP, 1999Description : 1 f. : Ill. ; 30 cmAvailability: Copies available for loan: Bib. Paris[EMP 148.448 CCL.5777] (1).

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