000 02009nac 22003371u 4500
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100 _a20091009d2007 u y1frey5003 b
200 _aGuide de préparation des échantillons pour la microscopie électronique en transmission
_b[Texte imprimé]
_fJeanne Ayache, Luc Beaunier, Jacqueline Boumendil, Gabrielle Ehret, Danièle Laud
_iTome I - Méthodologie
_iTome II - Techniques
210 _aSaint-Etienne
_cPublications de l'université de Saint-Etienne
_d2007
215 _a2 vol. (270 p.-399 p.) : ill.
_d24 cm
300 _aPlan du Tome 1 : 1 : Introduction aux matériaux. 2 : Les différents modes d’observations en microscopie électronique (sem, tem, stem) 3 : Problématique matériau et analyses en tem et tem/stem. 4 : Mécanismes physiques et chimiques des techniques de préparation. 5 : Artéfact en microscopie électronique en transmission au coeur de la société stépanoise. 6 : Choix de la technique de préparation en fonction de la problématique matériau et des analyses tem. 7 : Comparaisons entre techniques. 8 : Conclusion. Plan du Tome 2 : 1 : Introduction générale. 2 : Techniques de préparation préalables. 3 : Techniques de préparation par amincissement. 4 : Techniques de préparation mécanique. 5 : Techniques des répliques. 6 : Techniques spécifiques aux matériaux divises. 7 : Techniques d’augmentation de contraste et de marquage
419 _tIntégrations
610 _aMicroscopie électronique transmission
610 _aPréparation échantillon
700 _9199193
_aAYACHE
_bJeanne
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_aBeaunier
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_bDanièle
909 _aMONO
099 _c2009-10-09
_d2019-07-29